Plan de muestreo secuencial para larvas de la polilla de las coles, Plutella Xylostella (L.) en colza

Abstract

La superficie sembrada con cultivo de colza en Argentina está en expansión. Plutella xylostella (L.) es un herbívoro específico de Brassicaceae y plaga clave del cultivo de colza por alimentarse de hojas y órganos reproductivos. La estimación de la densidad poblacional mediante un plan de muestreo constituye una herramienta indispensable dentro de un programa de MIP para ser utilizada en la toma de decisión del control de la plaga. El objetivo de este trabajo fue desarrollar protocolos de muestreo secuencial para estimar la densidad poblacional de larvas con un nivel de precisión prefijado, para aplicar en dos etapas fenológicas del cultivo. El estudio se realizó en dos parcelas de colza var. Impact Don Atilio. Se implementó un esquema de muestreo con una frecuencia de dos veces por semana. En cada fecha, y encada parcela, se tomó una muestra aleatoria de 20 plantas. El período de estudio se dividió en dos etapas fenológicas: 1) Etapa Fenológica Temprana: desde el estado de roseta (1.3) hasta inicio de floración (6.0), la unidad muestral consistió en el conteo de larvas en la totalidad de cada planta; 2) Etapa Fenológica Tardía: desde floración (6.2) hasta inicio de maduración de frutos (8.0), la unidad muestral consistió en el conteo de larvas en la mitad de las hojas y en la totalidad de las ramas florales. El patrón de distribución muestral se analizó mediante la ley de potencias Taylor, aplicando análisis de regresión Ln (S2) sobre Ln (m). Sobre la base de los parámetros de la ley de Taylor estimados a través de análisis de regresión, se calcularon las líneas críticas de muestreo secuencial para estimación de abundancia de acuerdo al modelo de Green, correspondientes a distintos niveles de precisión, definido como C=EE/m. La densidad media de larvas de P. xylostella varió entre 0,65 y 10,75 larvas por planta; y entre 0,13 y 3,31larvas por planta, para las Etapas Temprana y Tardía, respectivamente. Las regresiones ajustadas fueron Ln (S2) = 0.078+1.47 Ln (m); R2=0.81 y Ln (S2) = 0.335+1.43 Ln (m); R2=0.9,respectivamente. El valor de la pendiente de estas regresiones es consistente con un patrón de distribución espacial altamente agregado. La comparación de las líneas críticas de muestreo secuencial muestra que el incremento de esfuerzo de muestreo es proporcionalmente mayor al incremento de precisión.